Том 7 (2004)
- Номер 1 (январь-февраль 2004)
- Номер 2 (март-апрель 2004)
- Номер 3 (май-июнь 2004)
- Номер 4 (июль-август 2004)
- Номер 5 (сентябрь-октябрь 2004)
- Номер 6 (ноябрь-декабрь 2004)
- Номер Спец1 (август 2004)
- Номер Спец2 (август 2004)
Влияние типа атомных смещений в контуре Бюргерса дислокации на электронное строение Si35
В.С. Демиденко1, А.В. Нявро1, Н.Л. Зайцев1, В.И. Симаков11Сибирский физико-технический институт при ТГУ, Томск, 634050, Россия
Методом рассеянных волн с Xalfa-приближением для потенциала исследовано влияние протяженных дефектов типа краевой и винтовой дислокаций на электронное строение монослоя из 35 атомов кремния, а также рассмотрены особенности электронного строения нанотрубки.
стр. 265 – 267
Образец цитирования:
В.С. Демиденко, А.В. Нявро, Н.Л. Зайцев, В.И. Симаков Влияние типа атомных смещений в контуре Бюргерса дислокации на электронное строение Si35 // Физ. мезомех. - 2004. - Т. 7. - № Спец1. - С. 265-267